https://beamgostar.ir/xrf-analysis/ در دستگاه XRF یا طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس ،پرتو ایکس به نمونه مجهول تابیده و در اثر برانگیختن اتم ها باعث پدید آمدن پرتو ایکس ثانویه می شود . سپس با تعیین طول موج روش (WDS) یا انرژی پرتو ایکس ثانویه روش (EDS) ، عنصر یا عناصر مورد نظر را می توان شناسایی کرد. در آنالیز XRF درصد عناصر موجود در نمونه در بازه سدیم تا اورانیوم از 0.001 تا 99.99 درصد گزارش می شود . آدرس پیج اینستاگرام https://www.instagram.com/beamgostar آدرس کانال تلگرام https://telegram.me/joinchat/CJ3DZTvEd-xC8Lg7wAzZdQ